村田Murata貼片電容容量測(cè)試規(guī)范說明
深圳智成作為村田電容的現(xiàn)貨供應(yīng)商,為您介紹村田Murata貼片電容的容量測(cè)試需依照以下標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行:
一、測(cè)試條件與參數(shù)設(shè)定
(一)基礎(chǔ)測(cè)量環(huán)境
若無特殊說明,測(cè)量應(yīng)在室溫條件下開展。
(二)電壓與頻率分類標(biāo)準(zhǔn)
依據(jù)電容容量(C)的差異,測(cè)試條件劃分為以下三類:
| 電容容量范圍 | 測(cè)試頻率 | 測(cè)試電壓 |
|---|---|---|
| ≤10μF(最低電壓10V) | 1.0±0.1kHz | 1.0±0.2Vrms |
| ≤10μF(最高電壓6.3V) | 1.0±0.1kHz | 0.5±0.1Vrms |
| >10μF | 120±24Hz | 0.5±0.1Vrms |
(三)特殊型號(hào)調(diào)整說明
部分型號(hào)的測(cè)試電壓需特殊調(diào)整,具體如下:
- 部分型號(hào)(例如GRM033 B3/R61A系列),測(cè)試電壓應(yīng)采用0.5±0.1Vrms,而非默認(rèn)的1.0±0.2Vrms。
- GRM188R70J105型號(hào)的測(cè)試電壓需使用1.0±0.2Vrms,而非0.5±0.1Vrms。
二、測(cè)試操作步驟
(一)初始預(yù)處理(部分測(cè)試前需執(zhí)行)
將電容置于150±10℃的環(huán)境中進(jìn)行1小時(shí)熱處理,之后在室溫下靜置24±2小時(shí),隨后方可進(jìn)行測(cè)量。
(二)溫度特性測(cè)試(如需評(píng)估溫度對(duì)容量的影響)
- 無偏壓條件測(cè)試:在 -25℃ 至 +85℃(部分型號(hào)為 -55℃ 至 +125℃)的溫度區(qū)間內(nèi),每個(gè)溫度階段需穩(wěn)定保持5分鐘后進(jìn)行測(cè)量。容量變化需符合相應(yīng)規(guī)格,例如B1/B3型電容的容量變化范圍為±10%,R1/R7型電容的容量變化范圍為±15%等。
- 50%額定電壓偏壓測(cè)試:僅針對(duì)B1和R1型號(hào)進(jìn)行測(cè)試。其中,B1型號(hào)電容的容量變化范圍為 +10/-30%,R1型號(hào)電容的容量變化范圍為 +15/-40%。
三、測(cè)試注意事項(xiàng)
(一)測(cè)試儀器要求
確保所使用的電容表精度達(dá)到要求,并且在測(cè)試過程中,電容的充電/放電電流不得超過50mA。
(二)結(jié)果判定標(biāo)準(zhǔn)
電容容量必須在額定值允許的范圍內(nèi)。同時(shí),在經(jīng)過溫度特性、振動(dòng)、濕熱等環(huán)境測(cè)試后,電容容量的變化需滿足對(duì)應(yīng)條款規(guī)定,例如在高溫高濕環(huán)境測(cè)試后,容量變化應(yīng)≤±12.5%。
以上測(cè)試方法參考了JIS C5101和IEC 60384標(biāo)準(zhǔn)。鑒于不同型號(hào)存在差異,實(shí)際測(cè)試時(shí)需結(jié)合產(chǎn)品規(guī)格書進(jìn)一步確認(rèn)具體要求。
